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CAMECA

    • 電話: 33 1 43 34 62 00
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    二次イオン質量分析計(SIMS)、電子線マイクロアナライザ(EPMA)、低電子線X線分析計(LEXES)の世界的なリーダーで、国際的な研究機関に科学的な機器と、半導体業界にin-fab/near-fab計測ソリューションを提供します。市場には素材、原子力、半導体、地球化学、環境およびライフサイエンスが含まれます。

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